对比试样校准类型

1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，校准试样，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

 对比试样校准探头选择

超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。

对比试样校准对人体有没有伤害?

如果是超声波测厚仪的话，从原理来说，超声波没有辐射，它是一种振动机械波。但是人长期受到超声的影响，会引起人体组织轻微的发热;当频率更高时，发热就会越发厉害，校准试样方案，使人体内水分子被烧，周围的组织遭到破坏，长时间如此就有危险。因此大功率高强度的超声波持续作用于人体是有害的。如果是源测厚仪，0.5米就很危险了。而且值得一提的是，受辐射程度除和距离、受照射时间有关外，校准试样哪家好，和源的密封情况也有关系，密封不好受辐射程度就严重一些。所以在使用测厚仪工作时，要采取适当的保护措施防止电磁辐射的污染。

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