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相控阵检测 纳克 相控阵检测
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相控阵超声检测

动态深度扫描又称动态深度聚焦,超声声束沿阵元中轴线,对不同深度的焦点进行扫描。
分为发射动态深度聚焦和接收动态深度聚焦:发射动态聚焦即在发射时以不同聚焦深度延迟对探头进行分别激发,声束焦点在空间中深度方向延伸;接收动态聚焦在发射时使用单个聚焦脉冲,通过接收时不同深度接收延迟对回波脉冲重新聚焦。
右图为动态深度扫描示意图,以及普通扇形扫描成像和动态深度聚焦成像对比。




相控阵探头参数影响

相控阵超声阵列探头的性能对检测分辨率的影响很大,相控阵检测方案,如何设计探头参数是极为关键的技术之一。
要想获得化的设计效果需要研究相控阵阵列探头对声束指向性、聚焦效果等特性的影响。

影响声束特性的探头参数主要包括:探头阵元数(N)、阵元间距(d)和阵元宽度(a)。
这里列举一个通过实验来分析相控阵探头参数对聚焦声场的影响,相控阵检测,并计算确定合适的阵列参数,以获得较好的声束特性,从而使超声检测的分辨力提高。




 线阵探头相控阵超声检测

基于相控阵对声束的控制原理,采用模拟软件CIVA对聚焦声场进行模拟.通过改变探头单组激发晶片数目,频率和聚焦深度,相控阵检测报价,分析三者之间的关系;结合人工缺陷的实际检测结果,探讨聚焦与不聚焦检测的实施方法.试验表明,采用相控阵超声进行聚焦检测时存在焦点与声压位置的重合区和分离区,且合适的聚焦区域在近场区范围以内;不聚焦检测时应该根据缺陷的埋藏深度设置合理的单组激发晶片数目.以获得较好的检测效果.



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