CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点

应用闪烁体的分立探测器的主要优点是：闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制，从而使射入的大部分光子被俘获，提高探测效率。
尤其在高能条件下，可以缩短获取时间；因为闪烁体是独立的，所以几乎没有光学的窜扰；同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片，降低了X射线的窜扰。
分立探测器的读出速度很快，在微秒量级。
同时可以用输出脉冲来选通数据采集，CT检测方案，限度减小信号上叠加的噪声。
分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。

CT检测应用

工业CT与传统的X射线探伤和超声波探伤相比，具有空间分辨率高、无损检测、速度快等特点，因而在工业产品的检测中具有其他方法无可取代的作用。

对工件的CT扫描断层图或三维图像进行分析，CT检测价格，能够快速、准确、直观的检测到产品的内部缺陷（缺陷类型、位置、尺寸等）。
如裂纹、气孔、疏松、夹杂等缺陷，检测精度可达1um，同时给出钢管的壁厚分析、同心度、单位长度的重量等；亦可用于发电设备的实时检测。

CT检测面探测器

面探测器主要有三种类型：高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。
半导体芯片又分为CCD和CMOS。
CCD对X射线不敏感，表面还要覆盖一层闪烁体将X射线转换成CCD敏感的可见光。

半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数，北京CT检测，像素尺寸可小到10微米左右，探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸，一般直径在50mm以上。
因为探测单元很小，信号幅度也很小，为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。

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