CT检测平板探测器

平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如CsI）的非晶态硅或非晶态硒做成。
像素尺寸127 或200μm，工业CT检测，平板尺寸大约45cm（18in）。
读出速度大约3～7.5帧/s。
优点是使用比较简单，没有图像扭曲。
图像质量接近于胶片照相，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。
主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，对高能X 射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。
在较高能量应用时，必须对电子电路进行射线屏蔽。
一般说使用在150kV以下的低能效果较好。

CT检测

图像增强器是一种传统的面探测器，是一种真空器件。
名义上的像素尺寸＜100μm，直径152～457mm(6～18in)。
读出速度可达15～30 帧/s，是读出速度快的面探测器。
由于图像增强过程中的统计涨落产生的固有噪声，图像质量比较差，工业CT检测价格，一般射线照相灵敏度仅为7～8%，工业CT检测哪家好，在应用计算机进行数据叠加的情况下，工业CT检测方案，射线照相灵敏度可以提高到2%以上。
缺点就是易碎和有图像扭曲。
面探测器的基本优点是不言而喻的—它有着比线探测器高得多的射线利用率。
面探测器也比较适合用于三维直接成像。
所有面探测器由于结构上的原因都有共同的缺点，即射线探测效率低、无法限制散射和窜扰、动态范围小等。
高能范围应用效果较差。

CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点

应用闪烁体的分立探测器的主要优点是：闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制，从而使射入的大部分光子被俘获，提高探测效率。
尤其在高能条件下，可以缩短获取时间；因为闪烁体是独立的，所以几乎没有光学的窜扰；同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片，降低了X射线的窜扰。
分立探测器的读出速度很快，在微秒量级。
同时可以用输出脉冲来选通数据采集，限度减小信号上叠加的噪声。
分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。

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